菲希爾x射線測(cè)厚儀XDL240產(chǎn)品介紹

菲希爾x射線測(cè)厚儀XDL240產(chǎn)品介紹

德國X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240

X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，采用自動(dòng)方式，測(cè)量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

德國X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀

簡介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能全自動(dòng)檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL 240 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測(cè)量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

由于采用了 FISCHER *基本參數(shù)法，因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。

設(shè)計(jì)理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺(tái)式測(cè)量儀器。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 XY 工作臺(tái)，當(dāng)測(cè)量門打開時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置；馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)，可編程運(yùn)行。

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以精確定位測(cè)量位置。通過視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過程和進(jìn)度。配備了激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。

測(cè)量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測(cè)量點(diǎn)的精確調(diào)整。

所有的儀器操作，以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過功能

強(qiáng)大而界面友好的 WinFTM軟件在電腦上完成。

XDL 型鍍層測(cè)厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器，型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定。