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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

更新時間：2024-06-15

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廠商性質：代理商

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簡要描述：

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀，是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。

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產品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區間	面議
產地類別	進口	應用領域	環保,化工,石油,能源,電子/電池

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

FISCHERXDV-µ測量儀

FISCHERXDV-µ測量儀是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。FISCHERXDV-µ測量儀短時間內就可形成高強度聚焦射線。是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。。是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。

短時間內就可形成高強度聚焦射線。系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。60µm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀